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NXP Semiconductors
ESD TESTER
PESDxL4UF/G/W
Low capacitance unidirectional quadruple ESD protection diode arrays
DIGITIZING
R Z
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
(1)
C Z
IEC 61000-4-2 network
C Z = 150 pF; R Z = 330 ?
DUT
DEVICE
UNDER
TEST
50 ?
(1): attenuator is only used for open
socket high voltage measurements
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
vertical scale = 5 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
PESD5V0L4UF/G/W
GND2
PESD3V3L4UF/G/W
GND
GND1
GND
unclamped +1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
unclamped ? 1 kV ESD voltage waveform
GND
clamped +1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 5 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
clamped ? 1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
Fig 8. ESD clamping test setup and waveforms
PESDXL4UF_G_W_4
(IEC 61000-4-2 network)
006aab138
? NXP B.V. 2008. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 04 — 28 February 2008
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